ご挨拶

ご挨拶

Hayashi
ICテスタは、1990年代まで半導体製造プロセスにおいて、半導体メーカにとって露光装置とともに重要かつ戦略的な装置でした。当時は最先端のテスタでなければ最新のデバイスをテストできないという考え方が主流でした。しかし、現在ではメモリや超高速、多ピンのSoCでない限り、どこのメーカのテスタでもそこそこテストはできてしまう時代になってきています。それはテスタに使用されるLSIにおいても、以前はテスタメーカ各社はこぞってカスタムLSIを開発し使用していましたが、現在ではそのような高コストのカスタムLSIを使用することなく、市販品のLSIを工夫して使用することで優れたテスタは構築可能な時代になってきています。そういう意味で、ICテスタは現在ではコモディティー製品になってきているとも言えます。
一方で半導体ビジネスは、アプリケーションビジネスになってきているのではないでしょうか?いかに他社との差別化を図るかは、どういった新たなアプリケーションをデバイス開発できるかにかかってきています。
そんな環境の中、テスタ名や大手ブランド名に固執することなく、世界で広く使用され、高いコストパフォーマンスで、多くのアプリケーション実績を持つテスタや関連製品をご紹介差し上げていきたいと考えています。

株式会社マクレーン
代表取締役 林 克宗

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