MENU
メニューを飛ばす
製品紹介
Products
AccoTEST社
Twin Solution社
Pentamaster社
Test Inspire社
Prime Rel社
esmo社
会社案内
About us
ご挨拶
会社概要
業務内容
パートナー
お知らせ
Information
お問い合わせ
Contact us
アプリケーション
Application
STS8203 ディスクリートデバイス用パッケージテストシステム
HOME
»
製品紹介
»
AccoTEST社製半導体テストシステム
»
STS8203 ディスクリートデバイス用パッケージテストシステム
One of Product based on STS8200 platform
Focus on MOSFET,BJT,IGBT etc. Power Discrete Device Test
DC Test up to 2000v, 200A, AC Test Option provide UIS, DVDS and Cg/Rg Test by board level
DC+AC can be program and datalog based on one Test UI (User Interface)
Support Multi-Task Test function to test different test items by different test station at same time.
Can be flexible configured either DC or AC or DC+AC Test
DC Test can support parallel, Pingpong test also.
All boards can be application at STS8200 other platform
Can be shared all test mode of STS8200 to get the best effective
製品紹介
AccoTEST社製半導体テストシステム
STS8200 テストシステム
STS 8300 PMIC テストシステム
STS8202 パワーディスクリート ウエハテストシステム
STS8203 ディスクリートデバイス用パッケージテストシステム
STS8200 IPMテストシステム
STS8200 IGBT Module テストシステム
esmo社製品
マニピュレータ
Pogo Tower
Engineering用高低温テストハンドラTalos シリーズ
Test Inspire社
Viper-Lynx
Viper-Puma
Pentamaster社
PM35 Rotaryテストハンドラ
PM50 In-Line Power Module ハンドラ
PM51 Media Transfer ハンドラ
PM52 MEMS デバイステスト用Bowl to Binハンドラ
Twin Solution社
Standard Test Socket
POP (Package on Package) テストソケット
MEMS テストソケット
SLT (System Level Test) Solution
Spring Probes
WLCSP
Prime Rel社
HTXB-Multifunctional Environment Test System
Thermal X パワーサイクルテストシステム
AVATAR-D シリーズ パワー半導体テストシステム
お気軽にお問い合わせください
TEL 03-6312-2251
受付時間 9:00 - 18:00 [ 土・日・祝日除く ]
検索:
製品紹介
AccoTEST社製半導体テストシステム
STS8200 テストシステム
STS 8300 PMIC テストシステム
STS8202 パワーディスクリート ウエハテストシステム
STS8203 ディスクリートデバイス用パッケージテストシステム
STS8200 IPMテストシステム
STS8200 IGBT Module テストシステム
esmo社製品
マニピュレータ
Pogo Tower
Engineering用高低温テストハンドラTalos シリーズ
Test Inspire社
Viper-Lynx
Viper-Puma
Pentamaster社
PM35 Rotaryテストハンドラ
PM50 In-Line Power Module ハンドラ
PM51 Media Transfer ハンドラ
PM52 MEMS デバイステスト用Bowl to Binハンドラ
Twin Solution社
Standard Test Socket
POP (Package on Package) テストソケット
MEMS テストソケット
SLT (System Level Test) Solution
Spring Probes
WLCSP
Prime Rel社
HTXB-Multifunctional Environment Test System
Thermal X パワーサイクルテストシステム
AVATAR-D シリーズ パワー半導体テストシステム