AVATAR-D シリーズ パワー半導体テストシステム

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AVATAR-Dシリーズは、パワー半導体デバイスの動的特性テスト機能を一つにまとめたテストシステムです。 IGBTのダブルパルステスト(ターンオン、ターンオフ、逆回復特性テストを含むDPT)、短絡安全動作領域(SCSOA)、および逆バイアス安全動作領域(RBSOA)テストを実行するための幅広い測定機能を提供します、ダイオード、MOSFET、およびIGBT Moduleなどの高出力半導体を対象とし、IEC60747-9国際規格に完全に準拠しています。
DPT、RBSOA、SCSOAのテスト機能を1つのシステムに統合し、VGE、IGE、VCE、IC、VF、IF波形を同時に監視するAVATAR-Dシリーズ製品には、お客様向けの革新的な技術が数多く使用されています。 DPTおよびRBSOAの最大電圧および電流は、最大5000V / 10000A、SCSOAの最大5000V / 20000Aです。さらに、電圧と電流の範囲は、お客様の要件に応じて提供できます。 DUTの加熱温度は、室温から200℃で、高温試験の要件を満たします。 AVATAR-Dは、パッケージタイプとトポロジー回路が異なるさまざまなDUTをサポートします。本システムでは、セミオートとフルオートのシステムを選択できます。低漂遊インダクタンス技術により、より正確な測定データを取得できます。
ユーザーは、携帯電話、PAD、PCにインストールされたSmart LabソフトウェアによってAVATAR-Dをリモートで監視および制御できるため、テストプロセスの管理とリアルタイムのテスト結果の表示がいつでもどこでも非常に簡単に行うことがます。さらに、スマートデータのクラウドストレージとクラウドコンピューティング技術を使用すると、データベースセンタに保存されている必要なデータをすばやく簡単に管理および分析できます。

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